소프트웨어 | Optima | 옵티마-SA Optima-SA™는 정적 분석 솔루션을 제공합니다.

플립플롭의 소프트 오류는 일반적으로 DMR/TMR(Dual 또는 Triple Modular Redundancy)을 사용하여 해결됩니다. 그곳의 플립플롭은 복제되거나 삼중화되고 두 개 또는 세 개의 플롭의 출력이 비교됩니다. 플롭 중 하나가 다른 것과 다르면 오류가 발생한 것입니다. 플롭의 이러한 "경화"는 설계의 모든 플립플롭에 적용될 수 있으며, 결과적으로 DMR을 가정할 때 실리콘 사용량이 평균 70% 증가합니다.

설계 논리에 따라 대부분의 플롭을 강화할 필요는 없습니다. 실제로 일시적인 결함은 나머지 설계 논리에 의해 가려지거나 안전하지 않은 상태를 유발하지 않습니다. 플립플롭의 AVF(Architectural Vulnerability Factor)는 플롭의 오류가 안전 목표 출력에 도달할 확률을 측정합니다. 높은 ASIL 등급을 달성하려면 AVF가 높은 플롭만 강화하면 됩니다. 종종 이는 모든 플롭의 5% 이하일 수 있으며, 설계의 모든 플롭을 강화하는 것에 비해 전력 소비와 실리콘 면적이 크게 절약됩니다.

Optima-SE™는 AVF 보고서를 생성하기 위한 모든 계산과 ASIL-D 등급을 계산하기 위한 FMEDA 매개변수를 제공합니다. 또한, 인증심사정보를 제공합니다. 디버그 환경은 엔지니어가 문제를 쉽게 파악할 수 있도록 중요한 플립플롭 적용 범위 세부 정보를 보여줍니다.

Optima-SE™를 사용하면 수개월이 걸리고 불확실한 결과로 이어질 수 있는 복잡한 결함 시뮬레이션 프로세스가 변화됩니다. 이를 통해 이 작업을 단 며칠 만에 수행할 수 있습니다. 동시에 정보 출력을 자동화하여 ISO 26262 감사를 쉽고 안정적으로 완료합니다.

메모리 비트플립(Bit Flip)은 자동차 기기에서도 중요한 문제이다. 메모리 신뢰성은 ECC(Error Correcting Code)를 사용하여 처리되는 경우가 많습니다. 거기에서 메모리 단어는 쓰기 전에 인코딩된 다음 디코딩됩니다. 해밍 코드(Hamming Code)와 같은 코딩 시스템을 사용하면 단일 비트 변경을 올바른 값으로 다시 전환하고 이중 비트 변경을 최소한 오류로 인식할 수 있습니다.

또한 ECC 안전 처리 회로는 각 메모리 비트에 오류가 주입되는 오류 시뮬레이션을 사용하여 테스트해야 하며 오류가 올바르게 처리되었는지 확인하기 위해 시뮬레이션을 실행해야 합니다. 플립플롭의 경우와 유사하게 이러한 소프트 오류도 99%보다 높은 수준으로 제거되어야 합니다.

Optima Safety and Security Platform (OSSP) 의 다른 제품과 함께 Optima-SE™는 ISO 26262 ASIL-D 기능 안전 검증에 대한 TUV Nord 인증 과 SGS-TÜV Saar 로부터 ASIL-D READY 기능 안전 인증을 받았습니다 .